Máy phân tích thành phần nguyên tố RIGAKU ZSX Primus IV

Tổng quan:

Máy phân tích thành phần Rigaku ZSX Primus IV là thiết bị phân tích nguyên tố chất rắn, chất lỏng, bột, hợp kim và màng mỏng.

Rigaku ZSX Primus IV là máy quang phổ huỳnh quang tia X phân tán bước sóng tuần tự (WDXRF) đặt trên ống, Rigaku ZSX Primus IV mới cung cấp khả năng xác định định lượng nhanh chóng các nguyên tố nguyên tử chính và phụ, từ berili (Be) đến uranium (U), trong nhiều loại nguyên tố khác nhau. các loại mẫu - với tiêu chuẩn tối thiểu.

Đây là máy phân tích tia X huỳnh quang quét được chiếu sáng phía trên. Được trang bị " ZSX Guidance" để hỗ trợ đo lường và phân tích, ngay cả người mới bắt đầu cũng có thể dễ dàng thu được kết quả phân tích chính xác. Hệ thống đếm kỹ thuật số, máy đo góc tốc độ cao và hệ thống điều khiển được tối ưu hóa cho phép đo tốc độ cao, độ chính xác cao. Cũng có thể đo các phần tử siêu nhẹ bằng cách sử dụng màng đa lớp nhân tạo và cơ chế điều khiển chân không. Đây là mẫu máy có thông số kỹ thuật cao được trang bị thiết kế an toàn và bảo mật như chức năng ngăn ngừa lỗi của con người, phân tích ánh xạ điểm và chức năng SQX bức xạ tán xạ.

Tính năng:

Phần mềm XRF của hệ thống chuyên gia hướng dẫn ZSX mới

Hướng dẫn ZSX hỗ trợ bạn trong mọi khía cạnh của phép đo và phân tích dữ liệu XRF. Phân tích chính xác chỉ có thể được thực hiện bởi các chuyên gia? Không - đó là quá khứ. Phần mềm Hướng dẫn ZSX, với kiến ​​thức chuyên môn về XRF tích hợp và bí quyết của các chuyên gia lành nghề, sẽ xử lý các cài đặt phức tạp. Người vận hành chỉ cần nhập thông tin cơ bản về mẫu, thành phần phân tích và thành phần tiêu chuẩn. Các đường đo có độ chồng chéo ít nhất, nền tối ưu và các tham số hiệu chỉnh (bao gồm cả độ chồng chéo của đường) được thiết lập tự động với sự trợ giúp của quang phổ định tính.

Hiệu suất XRF của phần tử ánh sáng vượt trội với thấu kính quang học đảo ngược cho độ tin cậy vượt trội

ZSX Primus IV có cấu hình quang học cải tiến trên đây. Không còn phải lo lắng về đường truyền tia bị ô nhiễm hoặc thời gian ngừng hoạt động do bảo trì buồng mẫu. Hình học quang học phía trên giúp loại bỏ những lo lắng về việc làm sạch và tăng thời gian. Cung cấp hiệu suất vượt trội với tính linh hoạt để phân tích các mẫu phức tạp nhất, máy quang phổ ZSX Primus IV WDXRF có ống 30 micron, ống cửa sổ cuối mỏng nhất hiện có trong ngành, cho giới hạn phát hiện nguyên tố nhẹ đặc biệt (Z thấp).

Lập bản đồ và phân tích XRF đa điểm

Kết hợp với gói lập bản đồ tiên tiến nhất để phát hiện tính đồng nhất và tạp chất, ZSX Primus IV cho phép điều tra phổ XRF chi tiết dễ dàng đối với các mẫu, cung cấp những hiểu biết sâu sắc về phân tích mà các phương pháp phân tích khác không dễ dàng có được. Phân tích đa điểm sẵn có cũng giúp loại bỏ lỗi lấy mẫu ở các vật liệu không đồng nhất.

Các thông số cơ bản của SQX với phần mềm EZ-scan

EZ-scan cho phép người dùng thực hiện phân tích nguyên tố XRF của các mẫu chưa biết mà không cần thiết lập trước. Tính năng tiết kiệm thời gian này chỉ cần vài cú click chuột và nhập tên mẫu. Kết hợp với phần mềm tham số cơ bản SQX, nó cung cấp kết quả XRF chính xác và nhanh nhất có thể. SQX có khả năng tự động hiệu chỉnh tất cả các hiệu ứng ma trận, bao gồm cả hiện tượng chồng dòng. SQX cũng có thể điều chỉnh hiệu ứng kích thích thứ cấp bằng các quang điện tử (các nguyên tố nhẹ và siêu nhẹ), khí quyển khác nhau, tạp chất và kích thước mẫu khác nhau. Độ chính xác tăng lên nhờ sử dụng thư viện phù hợp và các chương trình phân tích quét hoàn hảo.

Các tính năng nổi bật:

Phương pháp chiếu sáng hàng đầu

Nó sử dụng phương pháp chiếu sáng phía trên có thể được sử dụng một cách an toàn cho phân tích thông thường. Ngay cả khi bột từ mẫu bột bị phân tán thì cũng không ảnh hưởng đến hệ thống quang học. Không cần màng để bảo vệ mẫu.

Chức năng cài đặt tự động ứng dụng định lượng

Chỉ cần nhập giá trị chuẩn và thông tin mẫu của mẫu chuẩn, cài đặt đường phân tích/hệ thống quang học, hiệu chỉnh phần tử cùng tồn tại và hiệu chỉnh chồng chéo sẽ được đặt tự động, giúp ngay cả người mới bắt đầu cũng dễ dàng lưu trữ đường cong hiệu chuẩn.

Chương trình đánh giá/tìm kiếm đường đo tối ưu để phân tích độ dày/độ bám dính của màng

Bạn có thể có được sự kết hợp của các đường phân tích cho phép phân tích chính xác nhất, thông tin về độ sâu phân tích của các đường phân tích, kết quả mô phỏng tốc độ hấp thụ của lớp trên và thông tin về các đường giao thoa.

Phân tích dễ sử dụng với khả năng hoạt động tuyệt vời

"Phân tích dễ dàng", hợp nhất các hoạt động cần thiết cho phân tích thông thường hàng ngày, cho phép bạn gọi một loạt cài đặt phân tích chỉ bằng một cú chạm và đăng ký các ứng dụng được sử dụng thường xuyên làm "Yêu thích".

Phân tích nhanh

Công suất đã được cải thiện nhờ vận chuyển mẫu tốc độ cao, máy đo góc tốc độ cao, xử lý dữ liệu tốc độ cao và điều khiển hiệu quả từng bộ truyền động. Thời gian phân tích định tính có thể giảm khoảng 40% và thời gian phân tích định lượng khoảng 20% ​​(so với công ty chúng tôi) và số lượng mẫu được xử lý trên mỗi đơn vị thời gian có thể tăng lên.

Đo lường chính xác cao

Hệ thống đếm tia X sử dụng máy phân tích đa kênh kỹ thuật số (D-MCA). Xử lý kỹ thuật số tốc độ cao đạt được độ tuyến tính đếm lên đến phạm vi tốc độ đếm cao, cải thiện độ chính xác của phân tích. Tốc độ đếm tối đa (tính tuyến tính 1%): SC 1800kcps, F-PC 3000kcps

Phòng ngừa lỗi của con người

Bạn có thể đặt mức độ truy cập vào phần mềm cho mỗi nhà điều hành. Điều này ngăn cơ sở dữ liệu bị thay đổi hoặc xóa do lỗi vận hành của người mới bắt đầu. Cài đặt hiển thị/ẩn cho menu chương trình có thể được lựa chọn tinh tế cho từng cấp độ người dùng, ngăn ngừa lỗi của con người.

Phân tích ánh xạ điểm trong hệ thống WDX

Được trang bị camera có độ phân giải cao, có thể hiển thị rõ ràng hình ảnh phóng to của một phần cụ thể trong toàn bộ hình ảnh mẫu. Điều này cho phép định vị chính xác ngay cả ở những khu vực nhỏ. Ngoài ra, bệ mẫu r-θ cho phép phân tích chính xác vì tất cả các vị trí đo có thể được đo với cùng độ nhạy.

Đặc trưng:

• Phân tích các nguyên tố từ Be tới U
• Phần mềm hệ thống chuyên gia ZSX Guidance
• Máy phân tích đa kênh kỹ thuật số (D-MCA)
• Giao diện phân tích EZ cho các phép đo thông thường
• Ống quang học phía trên giảm thiểu các vấn đề ô nhiễm
• Dấu chân nhỏ sử dụng không gian phòng thí nghiệm ít giá trị hơn
• Phân tích vi mô để phân tích các mẫu nhỏ tới 500 µm
• Ống 30μ mang lại hiệu suất phần tử ánh sáng vượt trội
• Tính năng lập bản đồ cho địa hình/phân bố nguyên tố
• Phớt khí heli có nghĩa là quang học luôn ở trong chân không

VIDEO về dòng thiết bị phân tích thành phần RIGAKU ZSX Primus

Ứng dụng:

CÔNG TY TNHH THIẾT BỊ CÔNG NGHỆ NĂNG LỰC là Đại lý ủy quyền chính thức của RIGAKU tại Việt Nam trong việc phân phối các Thiết bị phân tích thành phần nguyên tố chính hãng tại Việt Nam, có Giấy chứng nhận ủy quyền của hãng RIGAKU cấp.