Hệ thống quang học kiểm tra khiếm khuyết bề mặt chuyên dụng cho kim loại Automatic Optical Surface Inspection Of Metals hãng Dr.Schenk

EasyInspect dễ dàng tích hợp và liền mạch vào bất kỳ dây chuyền sản xuất nào hoặc lắp đặt mới, cung cấp khả năng kiểm tra kim loại hoàn hảo và giám sát năng suất ở tất cả các giai đoạn sản xuất, mang lại chất lượng sản phẩm tối ưu với chi phí sản xuất giảm.

EasyInspect được sử dụng để kiểm tra bề mặt kim loại phát hiện khuyết tật cục bộ, ví dụ:

• Phát hiện lỗi cạnh
• Phát hiện răng giả
• Phát hiện vết xước
• Phát hiện vết bẩn
• Phát hiện đường nối
• Phát hiện lỗ
• Phát hiện gấp
• Phát hiện trượt
• Phát hiện mối hàn
• Phát hiện quy mô
• Phát hiện dấu cuộn
• …và nhiều cái khác!

Kiểm tra kim loại

• EasyInspect và EasyMeasure cung cấp các tính năng kiểm tra kim loại
• Nâng cao hiệu suất kiểm tra chất lượng cho các bề mặt kim loại không có khuyết tật, hoàn mỹ
• Bộ phân loại lỗi nâng cao để phân loại lỗi đáng tin cậy và nhanh chóng
• Tính sẵn sàng của hệ thống cao, đảm bảo sản xuất đáng tin cậy
• Báo cáo trực tuyến và hình ảnh hóa trả lại thông tin chất lượng toàn diện trong nháy mắt
• Tích hợp dễ dàng, giảm thiểu chi phí và đảm bảo thực hiện nhanh chóng, đảm bảo hiệu quả tối ưu
• Các tính năng và chất lượng đáng tin cậy để người dùng chấp nhận

Kiểm tra quang học tự động mạnh mẽ

• Tỷ lệ phát hiện tốt nhất bằng cách sử dụng nhiều chế độ xem với công nghệ chiếu sáng tiên tiến cho mọi khiếm khuyết (công nghệ MIDA)
• Phân loại thông minh kết hợp tất cả thông tin khiếm khuyết từ tất cả các góc nhìn để phân biệt các khiếm khuyết nghiêm trọng với các bất thường trọng yếu không đáng kể

Công nghệ tốt nhất trong Quang học, Điện tử, Phần mềm

• Quang học đặc biệt cho ánh sáng định hướng để phát hiện các khuyết tật địa hình nhỏ hơn một cách đáng tin cậy
• Camera kép tốc độ cực cao độc đáo (lên đến 1280 MHz) cho tốc độ kiểm tra cao nhất và cải thiện độ nhạy đối với các lỗi tương phản thấp
• Phần mềm nâng cao, bao gồm phát hiện vệt và khoảng thời gian

Hệ thống thông tin chất lượng (QIS)

• Hệ thống Công nghiệp 4.0 Sẵn sàng sử dụng cơ sở dữ liệu SQL mở để lưu trữ và xử lý thêm thông tin
• Báo cáo linh hoạt cho tài liệu nội bộ và bên ngoài về chất lượng vật liệu

EasyMeasure theo dõi các tính chất bề mặt kim loại

• EasyMeasure cung cấp thông tin toàn diện về bề mặt kim loại như độ thô, độ bóng hoặc tính đồng nhất của lớp phủ để tối ưu hóa quy trình sản xuất và chất lượng sản phẩm. Kết hợp Tiến sĩ Schenk’s EasyInspect phát hiện khuyết tật cục bộ với EasyMeasure theo dõi toàn bộ vật liệu nhằm đạt được thêm một khía cạnh kiểm soát chất lượng.
• Với hệ thống này, bạn có một công cụ kiểm soát nhanh chóng và mạnh mẽ để sửa chữa nhanh chóng các trục trặc sản xuất tốn kém mà không cần thêm phần cứng và chi phí thực hiện.

• Nhà máy Dải nóng

• Tẩy chua

• Nhà máy Tandem

• Nhà máy nhiệt

• Dây chuyền ủ liên tục

• Mạ kẽm

• Thép không gỉ

• Dòng hoàn thiện

• Các ứng dụng chuyên biệt

• MIDA - Phát hiện và phân loại khiếm khuyết ưu việt"Công nghệ ghép ảnh" của Tiến sĩ Schenk là cơ sở cho MIDA - Phân tích nhiều khiếm khuyết hình ảnh. Một khiếm khuyết tạo ra nhiều hình ảnh để phân tích toàn diện.

• Xem một khiếm khuyết với các thiết lập chiếu sáng khác nhau có thể tiết lộ thông tin quan trọng. Khi kiểm tra chất dẻo, ví dụ, một số khuyết tật có độ tương phản thấp rất khó phát hiện bằng ánh sáng nhìn thấy nhưng có thể dễ dàng phát hiện bằng ánh sáng hồng ngoại. Mục tiêu của việc kiểm tra là để xác định xem một khiếm khuyết được phát hiện có phải là nghiêm trọng hay không. Sự phân biệt này chỉ có thể được thực hiện khi tất cả các khuyết tật được phát hiện và khi chúng có thể được phân loại một cách đáng tin cậy. Tốc độ cao của quy trình sản xuất nhựa hiện đại đặt ra một thách thức - điều mà MIDA dễ dàng so sánh bằng cách sử dụng ghép kênh tốc độ cực cao để chiếu sáng và nhiều kênh quang học trên mỗi máy ảnh.

• Khi kiểm tra bề mặt kính, MIDA thu thập nhiều hình ảnh của một khuyết tật trong một lần quét. Sự kết hợp của thông tin khuyết tật này cung cấp thông tin đầy đủ về kích thước lõi và kích thước biến dạng của khuyết tật được phát hiện. Điều này rất quan trọng trong việc xác định xem cặn bám trên kính từ bể thiếc có ảnh hưởng đến kính hay không hoặc liệu nó có thể được rửa sạch một cách đơn giản hay không. Chỉ với thông tin từ kênh biến dạng mới có thể tạo ra sự phân biệt đáng tin cậy giữa các khuyết tật nghiêm trọng và không nghiêm trọng. Khả năng phát hiện vượt trội của MIDA đảm bảo rằng bong bóng, tạp chất, khuyết tật thiếc, đá, đường thắt nút hoặc doa trong thủy tinh không bị phát hiện.

• MIDA hoạt động như thế nào?Tiến sĩ Schenk’s MIDA sử dụng một dây chuyền quét (tiết kiệm không gian sản xuất có giá trị) một máy ảnh (tiết kiệm tiền) và nhiều nguồn chiếu sáng để cung cấp thông tin về lỗi rộng rãi. Chỉ có sự đánh giá kết hợp từ nhiều nguồn mới dẫn đến việc phân loại khuyết tật đáng tin cậy, điều cần thiết để tối ưu hóa việc kiểm soát chất lượng và kiểm soát quá trình.

• MIDA đang báo trước một sự thay đổi trong công nghệ kiểm tra. Nó vượt trội hơn so với các phương pháp kiểm tra khác và là một thành phần thiết yếu trong việc tối ưu hóa quy trình và kiểm soát chất lượng để có sản phẩm tốt hơn và sự hài lòng cao hơn của khách hàng.

• EasyInspect sử dụng công nghệ MIDA (Phân tích Khuyết tật Nhiều Hình ảnh) độc đáo của Tiến sĩ Schenk để kiểm tra kim loại với nhiều chế độ xem. Phần mềm mạnh mẽ kết hợp tất cả thông tin từ các kênh quang học 2x4, đảm bảo phân loại khuyết tật toàn diện nhất để phân biệt các khuyết tật nghiêm trọng với các khuyết tật không đáng kể vật liệu bất thường.

• Với bốn chế độ xem cho mặt trên và bốn chế độ xem giống nhau cho mặt dưới, đạt được độ chính xác vô song khi phát hiện.