Hệ thống kiểm tra khiếm khuyết bề mặt hiệu suất cao cho vật liệu cơ bản và vật liệu chuyển đổi High-Performance Inspection System for Base and Converted Materials Dr Schenk

Easylnspect: 100% đáng tin cậy về tốc độ và kiểm tra hiệu suất cao của cơ sở và vật liệu chuyển đổi

Tiến sĩ Schenk cung cấp nhiều giải pháp kiểm tra đáng tin cậy cho các vật liệu khác nhau, nhằm phát hiện các khuyết tật và bất thường trong màng & giấy bạc, màng quang học, giấy, sản phẩm không dệt, nhiều lớp và tráng phủ.

Máy ảnh tốc độ cao của Tiến sĩ Schenk cung cấp độ phân giải mạng lưới tuyệt vời - một yêu cầu không thể thiếu đối với môi trường sản xuất tốc độ cao hiện đại.

Từ các đơn vị kiểm tra theo mô-đun và tiêu chuẩn hóa đến các hệ thống tùy chỉnh, nhóm dự án của Tiến sĩ Schenk tùy chỉnh gói FasyInspect phù hợp với các yêu cầu và nhiệm vụ kiểm tra khác nhau cũng như ngân sách QA.

LỢI ÍCH CỦA BẠN

Tiết kiệm chi phí với công nghệ vượt trội

• Phát hiện và phân loại khiếm khuyết mạnh mẽ thông qua Phân tích nhiều khiếm khuyết hình ảnh (MlDA)

• Phân tích tối ưu thông qua MlDAX (Phân tích khiếm khuyết cấp độ tiếp theo)

• Máy ảnh siêu nhanh cho phép nhiều kênh quang học trong một dòng máy ảnh

• Giảm chi phí và không gian lắp đặt thông qua hệ thống chiếu sáng Twin-Line - 2 kênh quang trong một lần chiếu sáng

Thân thiện với người dùng vô song

• Dễ dàng và tự động tạo các quy tắc phân loại với Auto-Classifier

• Báo cáo có thể định cấu hình với Công cụ báo cáo Schenk của Dr.

100% giám sát vật liệu

• Đo dễ dàng để theo dõi 100% các đặc tính của vật liệu, ví dụ: sương mù, độ dày và nhiều hơn nữa

Vật liệu

• (Co) - Màng ép

• Màng phổi

• Vải không dệt / Dệt may

• Màng và lá được tráng và nhiều lớp

• Giải phóng lớp lót và màng kết dính

• Phim pin

• Bao bì linh hoạt

• Kim loại

• Giấy

• và nhiều cái khác...

Ml DA X sử dụng phần mềm có khả năng mở rộng cao chạy trên CPU / GPU đa lõi độc quyền của Tiến sĩ Schenk thích ứng với việc tăng sức mạnh phần cứng để đẩy giới hạn phân tích lỗi: các khu vực lỗi lân cận cũng được kiểm tra để truy xuất thêm thông tin, ví dụ như dạng thực của lỗi . MIDA X đặc biệt vượt trội khi đối mặt với các yêu cầu cao hoặc các điều kiện kiểm tra khó khăn, chẳng hạn như:

• phân biệt các khuyết tật với tiếng ồn xung quanh trong các vật liệu có cấu trúc cao hoặc các đặc tính không đều

• ngăn chặn việc phát hiện các lỗi giả

• xác định rõ các khu vực khiếm khuyết và khu vực không được chăm sóc

• hợp nhất các khuyết tật dài, rời rạc như sợi thành một

Các công cụ xử lý hình ảnh nâng cao Ml DA X và phân tích khiếm khuyết theo ngữ cảnh đầy đủ hoạt động giống như mắt và não người - chỉ tốt hơn. MIDA X nhanh hơn và cung cấp kết quả nhất quán 24/7.

Phát hiện

• Nhiễm bẩn

• Gel

• Bao gồm

• Hố

• Trầy xước

• Vệt

• Bong bóng

• Lớp phủ khoảng trống

• Vết ố

• Nếp nhăn

•và nhiều cái khác...